GDSJ-10000V智能絕緣電阻測試儀于試驗(yàn)室或現(xiàn)場做絕緣測試試驗(yàn)。內(nèi)含高精度微電流測量系統(tǒng)、數(shù)字升壓系統(tǒng)。只需要用一條高壓線和一條信號線連接試品即可測量。測量自動(dòng)進(jìn)行，結(jié)果由大屏幕液晶顯示，并將結(jié)果進(jìn)行存儲(chǔ)。
一、主要特點(diǎn)
1． 采用32位微控制器控制，全中文操作界面，操作方便。
2． 自動(dòng)計(jì)算吸收比和極化指數(shù)，并自動(dòng)儲(chǔ)存15秒、1分鐘、2分鐘、10分鐘的每分鐘數(shù)據(jù)便于分析。
3． 輸出電流大，短路電流大于5mA。
4． 抗干擾能力強(qiáng)，能滿足超高壓變電站現(xiàn)場操作。
5． 測試完畢自動(dòng)放電，并實(shí)時(shí)監(jiān)控放電過程。
6． 內(nèi)附可充電電池和充電器，當(dāng)不使用背光燈時(shí)，充滿電可連續(xù)使用6～12小時(shí)。
二、10000V智能絕緣電阻測試儀主要技術(shù)性能
     準(zhǔn)確度：       ±(10%+5字)
測量范圍：     0.1M～400GΩ
試驗(yàn)電壓：     設(shè)定范圍：  0.5Kv～10KV   準(zhǔn)確度：  5%±10V        
               升降壓方式：  連續(xù)平滑調(diào)節(jié) 
短路電流：     >5mA
測量時(shí)間：     1分鐘～10分鐘（與測量方式有關(guān)）
充電電源：     180～270VAC  ,50Hz/60Hz±1% (市電或發(fā)電機(jī)供電)
  工作環(huán)境：     溫度-10～40℃，相對濕度20～80％。
三、操作部件功能
1.L接線端
“L”為高壓輸出端，稱為線路端，由高壓電纜引至被測線端，例如接至電機(jī)繞組、電纜線芯。
2.G接線端
“G”稱為屏蔽端，用于三電極法測量絕緣材料或電纜的體積電阻，它接至三電極的保護(hù)環(huán)端。
3.E接線端
“E”稱為地端，接至被測物的地、零端。例如電機(jī)外殼金屬、變壓器鐵芯、電纜屏蔽層。
四、注意事項(xiàng)及其它
請注意安全，L為高壓端！E為地端,必需接大地！1T=1000G 1G=1000M

操作方法
測量操作
進(jìn)入初始設(shè)置畫面（圖一）
初始設(shè)置畫面（圖一）
1．初始 測量圖標(biāo) 處于選中狀態(tài)，下面顯示5000v表示測量電壓。
（1） 按↑↓鍵 增大/減小測試電壓
（2） 按→鍵在可以使 時(shí)鐘圖標(biāo) 存儲(chǔ)圖標(biāo) 設(shè)置圖標(biāo) 循環(huán)處于選中狀態(tài)
（3） 按啟/停鍵1秒以上，啟動(dòng)測量，顯示測量畫面（圖二）     

顯示測量畫面（圖二）
5000v         表示測試電壓
大字體105 M  表示測量的瞬時(shí)值
02’45”        表示測量過程中的時(shí)間
05-05-24 : 測量日期
15” 表示測量15秒 的數(shù)值
01’ 表示測量1分鐘 的數(shù)值
02’ 表示測量2分鐘 的數(shù)值
10’ 表示測量10分鐘 的數(shù)值
    DAR  吸收比  DAR = R60s/R15s
      PI  極化比 PI   = R10m/R60s
         Rm  當(dāng)處于干擾強(qiáng)或試品容量比較大時(shí)候，Rm的數(shù)值更加真實(shí)的反映試品阻值。
（4）測量過程按啟/停鍵，或測量結(jié)束，顯示放電畫面（圖三）
            
 放電畫面（圖三）
 
600V放電過程的瞬時(shí)電壓。在這個(gè)時(shí)候一定不要接觸試品和測量線！等放電完畢，建議用戶對試品進(jìn)行人工放電。
  （5）放電完畢之后，進(jìn)入測量結(jié)果存儲(chǔ)畫面（圖四）           
                 
量結(jié)果存儲(chǔ)畫面（圖四）
            右半部分?jǐn)?shù)據(jù)與測量畫面一樣，請參考顯示測量畫面（圖二）的說明
            [007]  ：表示測量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的序號
            按→鍵在可以使  存儲(chǔ) 退出  007 循環(huán)處于選中狀態(tài)。
在 存儲(chǔ) 退出 處于選定狀態(tài)時(shí)候按啟/停鍵回到初始設(shè)置畫面（圖一）
[ 007 ] 處于選中狀態(tài)時(shí)候，按→鍵在可以移動(dòng)選中的位，按↑↓鍵修改序號。
2．當(dāng) 時(shí)鐘圖標(biāo) 處于選中狀態(tài) 。
（1） 按啟/停鍵，進(jìn)入時(shí)間顯示與設(shè)置畫面（圖五）        
時(shí)間顯示與設(shè)置畫面（圖五）
（2） 退出 處于選中狀態(tài) 按啟/停鍵 回到初始設(shè)置畫面（圖一）
（3） 設(shè)置 處于選中狀態(tài) 按啟/停鍵 會(huì)在日期、時(shí)間下面出現(xiàn)小箭頭
         按↑↓鍵修改日期時(shí)間。
（4） 修改完畢，按啟/停鍵 設(shè)置 會(huì)處于選中狀態(tài)。
（5） 按→鍵在可以使 設(shè)置 與退出 循環(huán)處于選中狀態(tài)。在修改日期時(shí)間時(shí)候，循環(huán)移動(dòng)小箭頭
3．當(dāng) 存儲(chǔ)圖標(biāo) 處于選中狀態(tài)
（1） 按啟/停鍵，進(jìn)入查看存儲(chǔ)數(shù)據(jù)畫面
（2）右半部分?jǐn)?shù)據(jù)與測量畫面一樣，請參考顯示測量畫面的說明
（3）[ 000 ] 到[ 007 ] 表示測量序號
（4）按↑↓鍵 使[ 000 ] 到[ 007 ]處于選中狀態(tài)，右邊顯示此序號的數(shù)據(jù)
（5）按→鍵 翻頁
（6） 按啟/停鍵 回到初始設(shè)置畫面
4．當(dāng) 設(shè)置圖標(biāo) 處于選中狀態(tài)
（1） 按啟/停鍵，進(jìn)入設(shè)置畫面     
（2）按→鍵   使 退出 背光 聲音 循環(huán)處于選中狀態(tài)。
（3）按↑↓鍵 改變相應(yīng)的設(shè)置
（4）按啟/停鍵 回到初始設(shè)置畫面（圖一）   
影響電阻或電阻率測試的主要因素  a．環(huán)境溫濕度
  一 般材料的電阻值隨環(huán)境溫濕度的升高而減小。相對而言，表面電阻(率)對環(huán)境濕度比較敏感，而體電阻(率)則對溫度較為敏感。濕度增加，表面泄漏增大，體電 導(dǎo)電流也會(huì)增加。溫度升高，載流子的運(yùn)動(dòng)速率加快，介質(zhì)材料的吸收電流和電導(dǎo)電流會(huì)相應(yīng)增加，據(jù)有關(guān)資料報(bào)道，一般介質(zhì)在70C時(shí)的電阻值僅有20C時(shí)的 10％。因此，測量材料的電阻時(shí)，必須指明試樣與環(huán)境達(dá)到平衡的溫濕度。
   b．測試電壓(電場強(qiáng)度)
  介 質(zhì)材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓范圍內(nèi)保持不變，即歐姆定律對此并不適用。常溫條件下，在較低的電壓范圍內(nèi)，電導(dǎo)電流隨外加電壓的增加而線性增 加，材料的電阻值保持不變。超過一定電壓后，由于離子化運(yùn)動(dòng)加劇，電導(dǎo)電流的增加遠(yuǎn)比測試電壓增加的快，材料呈現(xiàn)的電阻值迅速降低。由此可見，外加測試電 壓越高，材料的電阻值越低，以致在不同電壓下測試得到的材料電阻值可能有較大的差別。
  值得注意的是，導(dǎo)致材料電阻值變化的決定因素是測試時(shí)的電場強(qiáng)度，而不是測試電壓。對相同的測試電壓，若測試電極之間的距離不同，對材料電阻率的測試結(jié)果也將不同，正負(fù)電極之間的距離越小，測試值也越小。
  c．測試時(shí)間
  用 一定的直流電壓對被測材料加壓時(shí)，被測材料上的電流不是瞬時(shí)達(dá)到穩(wěn)定值的，而是有一衰減過程。在加壓的同時(shí)，流過較大的充電電流，接著是比較長時(shí)間緩慢減 小的吸收電流，zui后達(dá)到比較平穩(wěn)的電導(dǎo)電流。被測電阻值越高，達(dá)到平衡的時(shí)間則越長。因此，測量時(shí)為了正確讀取被測電阻值，應(yīng)在穩(wěn)定后讀取數(shù)值或取加壓1 分鐘后的讀數(shù)值。
  另 外，高絕緣材料的電阻值還與其帶電的歷史有關(guān)。為準(zhǔn)確評價(jià)材料的靜電性能，在對材料進(jìn)行電阻(率)測試時(shí)，應(yīng)首先對其進(jìn)行消電處理，并靜置一定的時(shí)間，靜 置時(shí)間可取5分鐘，然后，再按測量程序測試。一般而言，對一種材料的測試，至少應(yīng)隨機(jī)抽取3～5個(gè)試樣進(jìn)行測試，以其平均值作為測試結(jié)果。
  d．測試設(shè)備的泄漏
  在測試中，線路中絕緣電阻不高的連線，往往會(huì)不適當(dāng)?shù)嘏c被測試樣、取樣電阻等并聯(lián)，對測量結(jié)果可能帶來較大的影響。為此：
  為減小測量誤差，應(yīng)采用保護(hù)技術(shù)，在漏電流大的線路上安裝保護(hù)導(dǎo)體，以基本消除雜散電流對測試結(jié)果的影響；
  高電壓線由于表面電離，對地有一定泄漏，所以盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導(dǎo)線作為高壓輸出線并盡量縮短連線，減少*，杜絕電暈放電；
  采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料制作測試臺(tái)和支撐體，以避免由于該類原因?qū)е聹y試值偏低。
   e．外界干擾 
   高 絕緣材料加上直流電壓后，通過試樣的電流是很微小的，極易受到外界干擾的影響，造成較大的測試誤差。熱電勢、接觸電勢一般很小，可以忽略；電解電勢主要是 潮濕試樣與不同金屬接觸產(chǎn)生的，大約只有20mV，況且在靜電測試中均要求相對濕度較低，在干燥環(huán)境中測試時(shí)，可以消除電解電勢。因此，外界干擾主要是雜 散電流的耦合或靜電感應(yīng)產(chǎn)生的電勢。在測試電流小于10-10A或測量電阻超過1011歐姆時(shí)；被測試樣、測試電極和測試系統(tǒng)均應(yīng)采取嚴(yán)格的屏蔽措施，消除外界干擾帶來的影響.